老化衰減, 光致衰減(LID), 熱輔助光致衰減 (LeTID), 以及電勢誘導衰減(PID)是光伏組件的四種衰減機理，它們都會影響單晶硅電池結構的組件（例如PERC，PERT）發(fā)電性能。其中LID和LeTID是業(yè)內的關注重點，LID的形成主要是由于太陽能電池收到光照后產生的硼氧復合體會降低少數載流子的壽命，導致功率下降。而LeTID則是在高溫條件下，輔助光照導致電池效率降低的現(xiàn)象。

P型PERC組件因其?藝性質極易受到LID和LeTID的威脅，而N型電池以摻雜磷原子的N型硅片作為襯底，硼氧復合體少，LID和LeTID對其的影響微乎其微，這也是業(yè)界需要轉向N型技術的重要原因之?。為了進一步研究N型TOPCon的衰減模式，TÜV北德對組件進?了可靠性測試。

測試方法

為了比較N型組件和P型組件的可靠性，測試序列如下

評估老化衰減的測試：

冷熱循環(huán)TC 200（IEC 61215, - 40°C 至 85°C，200次循環(huán)）/400（2倍加嚴）/600（3倍加嚴）

濕熱DH 1000（IEC 61215，溫度85°C，相對濕度85%， 1000小時）/2000（2倍加嚴）/3000（3倍加嚴）

機械性能序列（靜載 SML+動載DML+冷熱循環(huán)TC50+濕凍循環(huán)HF10）

加嚴紫外老化UV90（IEC 61215, IEC TR 63279）

評估光致衰減的測試 (LID/LeTID)：LID 60kWh（IEC 61215 要求為5kWh穩(wěn)定，IEC 63202-1要求為針對LID評估至少20kWh以上）、LeTID 192h

評估電勢誘導衰減的測試（PID）：PID 96（IEC 61215）/192（2倍加嚴）/288 （3倍加嚴）

測試結果與分析：

根據測試結果，N型組件在可靠性測試中表現(xiàn)優(yōu)異，其衰減率均遠遠低于IEC的5%標準，并且衰減率在同一測試條件下均優(yōu)于P型組件。尤其是在TC、PID和DH基礎和加嚴測試序列中的表現(xiàn)優(yōu)異。

在60KWh/m2的光照條件下， N型TOPCon組件的LID衰減僅為0.26%，而PERC組件在相同條件下的衰減率為1.92%。LeTID測試中，N型TOPCon組件的功率衰減僅為0.09%，遠遠小于PERC組件1.17%。

UV測試中，N型TOPCon組件和PERC組件在經受了90KWh/m2的紫外線照射后，其功率衰減分別為0.60%和2.21%，外觀均無變化。

以上測試結果充分證明了N型組件的可靠性強，這得益于品質優(yōu)異的N型硅?和帶來更高效率的TOPCon電池技術，削弱了由B-O復合缺陷引起的LID，帶來了更?的少?壽命。

此外，N型組件通過采?優(yōu)異的邊框、玻璃、POE封裝材料，具有出?的抗?化和抗PID性能，進?步提?了組件機械性能和抗水汽滲透能力。

測試結論：

TÜV 北德測試結果表明， N型TOPCon組件即使在嚴苛的環(huán)境下，依然保持強大的可靠性和穩(wěn)定性。這使得N型組件成為更可靠和持久的太陽能發(fā)電解決方案，選擇N型成為目前電站選型的不二之選。